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Erschienen in: Microsystem Technologies 10-11/2014

01.10.2014 | Technical Paper

Advanced mask aligner lithography (AMALITH) for thick photoresist

verfasst von: Reinhard Voelkel, Uwe Vogler, Arianna Bramati, Marc Hennemeyer, Ralph Zoberbier, Anja Voigt, Gabi Grützner, Nezih Ünal, Ulrich Hofmann

Erschienen in: Microsystem Technologies | Ausgabe 10-11/2014

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Abstract

Advanced mask aligner lithography (AMALITH) is a holistic approach to improve shadow printing (contact and proximity lithography) in mask aligners. AMALITH is based on two tools, the MO Exposure Optics®, a new illumination system allow shaping the angular spectrum of the illumination light, and LAB, a software tool for full 3D simulation of the shadow printing process. MO Exposure Optics® is provided by SUSS MicroTec AG (http://​www.​suss.​com), as an upgrade for all current and older mask aligner models. MO Exposure Optics® decouples the illumination from lamp misplacement (self-calibrated light source), improves the light uniformity, provides telecentric illumination and enables customized illumination in mask aligners. LAB is a software tool provided by GenISys GmbH (http://​www.​genisys-gmbh.​com), and allows simulating the complete chain from illumination, mask pattern, photoresist and resist processing. The combination of both tools allows optimizing mask aligner lithography beyond today’s limits.

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Literatur
Zurück zum Zitat Motzek K, Bich A, Erdmann A, Hornung M, Hennemeyer M, Meliorisz B, Hofmann U, Unal N, Voelkel R, Partel S, Hudek P (2010) Optimization of illumination pupils and mask structures for proximity printing. Microelectronic Engineering, Vol 87, 5–8. The 35th International Conference on Micro- and Nano-Engineering (MNE), May–August 2010, pp 1164–1167, ISSN 0167-9317 Motzek K, Bich A, Erdmann A, Hornung M, Hennemeyer M, Meliorisz B, Hofmann U, Unal N, Voelkel R, Partel S, Hudek P (2010) Optimization of illumination pupils and mask structures for proximity printing. Microelectronic Engineering, Vol 87, 5–8. The 35th International Conference on Micro- and Nano-Engineering (MNE), May–August 2010, pp 1164–1167, ISSN 0167-9317
Zurück zum Zitat Motzek K, Partel S, Bramati A, Hofmann U, Ünal N, Hennemeyer M, Hornung M (2012) Mask aligner lithography simulation—From lithography simulation to process validation. Microelectron Eng 98:121–124. doi:10.1016/j.mee.2012.07.076 CrossRef Motzek K, Partel S, Bramati A, Hofmann U, Ünal N, Hennemeyer M, Hornung M (2012) Mask aligner lithography simulation—From lithography simulation to process validation. Microelectron Eng 98:121–124. doi:10.​1016/​j.​mee.​2012.​07.​076 CrossRef
Zurück zum Zitat Rogoff R, Davies G, Mulkens J, de Klerk J, van Oorschot P, Kalmbach G, Wangler J, Rupp W (1996) Photolithography using the AERIAL™ illuminator in a variable NA wafer stepper. SPIE Symposium on Microlithography, Santa Clara, March 10–15 Rogoff R, Davies G, Mulkens J, de Klerk J, van Oorschot P, Kalmbach G, Wangler J, Rupp W (1996) Photolithography using the AERIAL™ illuminator in a variable NA wafer stepper. SPIE Symposium on Microlithography, Santa Clara, March 10–15
Zurück zum Zitat Voelkel R (2012) Wafer-scale micro-optics fabrication. Adv Opt Technol (AOT) 1:135–150 Voelkel R (2012) Wafer-scale micro-optics fabrication. Adv Opt Technol (AOT) 1:135–150
Zurück zum Zitat Voelkel R, Vogler U, Bich A, Weible KJ, Eisner M, Hornung M, Kaiser P, Zoberbier R, Cullmann E (2009) Illumination system for a microlithographic contact and proximity exposure apparatus. Eur Pat Appl EP 2253997:A2 Voelkel R, Vogler U, Bich A, Weible KJ, Eisner M, Hornung M, Kaiser P, Zoberbier R, Cullmann E (2009) Illumination system for a microlithographic contact and proximity exposure apparatus. Eur Pat Appl EP 2253997:A2
Zurück zum Zitat Voelkel R, Vogler U, Bich A, Pernet P, Weible KJ, Hornung M, Zoberbier R, Cullmann E, Stuerzebecher L, Harzendorf T, Zeitner UD (2010) Advanced mask aligner lithography: new illumination system. Opt Express 18:20968–20978CrossRef Voelkel R, Vogler U, Bich A, Pernet P, Weible KJ, Hornung M, Zoberbier R, Cullmann E, Stuerzebecher L, Harzendorf T, Zeitner UD (2010) Advanced mask aligner lithography: new illumination system. Opt Express 18:20968–20978CrossRef
Zurück zum Zitat Voelkel R, Vogler U, Bramati A, Weichelt T, Stuerzebecher L, Zeitner UD, Motzek K, Erdmann A, Hornung M, Zoberbier R (2012) Advanced mask aligner lithography. Proc. SPIE 8326, Optical Microlithography XXV, 83261Y Voelkel R, Vogler U, Bramati A, Weichelt T, Stuerzebecher L, Zeitner UD, Motzek K, Erdmann A, Hornung M, Zoberbier R (2012) Advanced mask aligner lithography. Proc. SPIE 8326, Optical Microlithography XXV, 83261Y
Metadaten
Titel
Advanced mask aligner lithography (AMALITH) for thick photoresist
verfasst von
Reinhard Voelkel
Uwe Vogler
Arianna Bramati
Marc Hennemeyer
Ralph Zoberbier
Anja Voigt
Gabi Grützner
Nezih Ünal
Ulrich Hofmann
Publikationsdatum
01.10.2014
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Erschienen in
Microsystem Technologies / Ausgabe 10-11/2014
Print ISSN: 0946-7076
Elektronische ISSN: 1432-1858
DOI
https://doi.org/10.1007/s00542-013-1950-5

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