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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 2/2013

01.04.2013

Self-Adaptive Fault Tolerance in Multi-/Many-Core Systems

verfasst von: Cristiana Bolchini, Matteo Carminati, Antonio Miele

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 2/2013

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Abstract

This paper presents a novel approach to the design of multi-/many-core systems with an adaptive level of reliability. The approach defines a layer at the operating system level that achieves fault detection/tolerance/diagnosis properties by means of thread replication and re-execution mechanisms. The layer applies the most convenient hardening mechanism to achieve the desired trade-off between reliability and performance by adapting at run-time to the changes of the working scenario. The proposed strategy has been applied in a set of experimental sessions considering a real-world parallel application, to evaluate its benefits on the final system with respect to various strategies selected at design time.
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Metadaten
Titel
Self-Adaptive Fault Tolerance in Multi-/Many-Core Systems
verfasst von
Cristiana Bolchini
Matteo Carminati
Antonio Miele
Publikationsdatum
01.04.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 2/2013
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-013-5367-y

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