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Metallurgical and Materials Transactions A
Erschienen in: Metallurgical and Materials Transactions A 11/2017

11.09.2017 | Communication

Characterizing Grain-Oriented Silicon Steel Sheet Using Automated High-Resolution Laue X-ray Diffraction

verfasst von: Peter Lynch, Matthew Barnett, Andrew Stevenson, Bevis Hutchinson

Erschienen in: Metallurgical and Materials Transactions A | Ausgabe 11/2017

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Abstract

Controlling texture in grain-oriented (GO) silicon steel sheet is critical for optimization of its magnetization performance. A new automated laboratory system, based on X-ray Laue diffraction, is introduced as a rapid method for large scale grain orientation mapping and texture measurement in these materials. Wide area grain orientation maps are demonstrated for both macroetched and coated GO steel sheets. The large secondary grains contain uniform lattice rotations, the origins of which are discussed.
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Metadaten
Titel
Characterizing Grain-Oriented Silicon Steel Sheet Using Automated High-Resolution Laue X-ray Diffraction
verfasst von
Peter Lynch
Matthew Barnett
Andrew Stevenson
Bevis Hutchinson
Publikationsdatum
11.09.2017
Verlag
Springer US
Erschienen in
Metallurgical and Materials Transactions A / Ausgabe 11/2017
Print ISSN: 1073-5623
Elektronische ISSN: 1543-1940
DOI
https://doi.org/10.1007/s11661-017-4313-5

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