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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 1/2011

01.02.2011

Editorial

verfasst von: Vishwani D. Agrawal

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 1/2011

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Two new editors are joining the editorial board. They are Shawn Blanton of Carnegie Mellon University and Partha Pande of Washington State University. Shawn is an established researcher in the area of testing and is currently serving as the program chair of the International Test Conference. Partha is the new editor for the Newsletter of the Test Technology Technical Council of the IEEE Computer Society and was appointed by the Council. He started writing the Newsletter from October 2010, replacing Mohammad Tehranipoor who continues on the board as a regular editor. Biographies of the new editors appear in this issue. …
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Metadaten
Titel
Editorial
verfasst von
Vishwani D. Agrawal
Publikationsdatum
01.02.2011
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 1/2011
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-011-5200-4

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