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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 2/2014

01.04.2014

Test Data Compression for System-on-a-Chip using Count Compatible Pattern Run-Length Coding

verfasst von: Haiying Yuan, Jiaping Mei, Hongying Song, Kun Guo

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 2/2014

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Abstract

The Count Compatible Pattern Run-Length (CCPRL) coding compression method is proposed to further improve the compression ratio. Firstly, a segment of pattern in the test set is retained. Secondly, don’t-care bits are filled so as to make subsequent patterns compatible with the retained pattern for as many times as possible until it can no longer be made compatible. Thirdly, the compatible patterns are represented by symbol “0” (equal) and symbol “1” (contrary) in the codeword. In addition, the number of consecutive compatible patterns is counted and expanded into binary which indicates when the codeword ends. At last, the six largest ISCAS’89 benchmark circuits verify the proposed method, the experimental results show that the average compression ratio achieved is up to 71.73 %.
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Literatur
1.
Chandra A, Chakrabarty K (2001) System-on-a-chip test-data compression and decompression architectures based on golomb codes. IEEE Trans Comput Aided Des Integr Circ Syst 20(3):355–368CrossRef
2.
Chandra A, Chakrabarty K (2003) Test data compression and test resource partitioning for system-on-a-chip using frequency-directed run-length (fdr) codes. IEEE Trans Comput 52(8):1076–1088CrossRef
3.
Chandra A, Chakrabarty K (2003) A unified approach to reduce soc test data volume, scan power and testing time. IEEE Trans Comput Aided Des Integr Circ Syst 22(3):352–363CrossRef
4.
El-Maleh AH, Al-Abaji RH (2002) Extended frequency-directed run-length code with improved application to system-on-a-chip test data compression. In: 9th international conference on electronics, circuits and systems, vol 2. IEEE, pp 449–452
5.
El-Maleh AH (2008) Efficient test compression technique based on block merging. IET Comput Digit Tech 2(5):327–335CrossRef
6.
Gonciari P, Al-Hashimi B, Nicolici N (2002) Improving compression ratio, area overhead, and test application time for system-on-a-chip test data compression/decompression. In: Confidential on design, automation and test in Europe. IEEE, p 604
7.
Jas A, Ghosh-Dastidar J, Ng M-E, Nur AT (2003) An efficient test vector compression scheme using selective huffman coding. IEEE Trans Comput Aided Des Integr Circ Syst 22(6):797–806CrossRef
8.
Kavousianos X, Kalligeros E, Nikolos D (2007) Optimal selective huffman coding for test-data compression. IEEE Trans Comput 56(8):1146–1152CrossRefMathSciNet
9.
Lee L-J, Tseng W-D, Lin R-B, Chang C-H (2012) 2n-pattern run-length for test data compression. IEEE Trans Comput Aided Des Integr Circ Syst 31(4):644–648CrossRef
10.
Nourani M, Tehranipour MH (2005) Rl-huffman encoding for test compression and power reduction in scan applications. ACM Trans Des Autom Electron Syst 10(1):91–115CrossRef
11.
Ruan X, Katti R (2006) An efficient data-independent technique for compressing test vectors in systems-on-a-chip. In: IEEE computer society annual symposium on emerging VLSI technologies and architectures. IEEE, p 6
12.
Tehranipoor M, Nourani M, Chakrabarty K (2005) Nine-coded compression technique for testing embedded cores in socs. IEEE Trans VLSI Syst 13(6):719–731CrossRef
13.
Touba NA (2006) Survey of test vector compression techniques. Des Test Comput IEEE 23(4):294–303CrossRef
14.
Tseng W-D, Lee L-J (2010) Test data compression using multi-dimensional pattern run-length codes. J Electron Test 26(3):393–400CrossRef
Metadaten
Titel
Test Data Compression for System-on-a-Chip using Count Compatible Pattern Run-Length Coding
verfasst von
Haiying Yuan
Jiaping Mei
Hongying Song
Kun Guo
Publikationsdatum
01.04.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 2/2014
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-014-5441-0

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