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Erschienen in: Microsystem Technologies 1/2009

01.01.2009 | Editorial

MST Special Issue on the conference MicroNanoReliability 2007

verfasst von: Bernd Michel

Erschienen in: Microsystem Technologies | Ausgabe 1/2009

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Excerpt

For the conference MicroNanoReliabilty, more than 300 participants met last year in Berlin, Germany, to discuss the latest research in reliability. The discussions were revolving around reliability issues of micromaterials and nanomaterials, and as it was the first time scientist from all over the world came together to debate these issues on this scale, we referred to it as first world congress of MicroNanoReliabilty. While the event can, therefore, not say it goes back a long way, it can certainly look back to 4 days of successful debates and forward to being held again in the future. …

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Metadaten
Titel
MST Special Issue on the conference MicroNanoReliability 2007
verfasst von
Bernd Michel
Publikationsdatum
01.01.2009
Verlag
Springer-Verlag
Erschienen in
Microsystem Technologies / Ausgabe 1/2009
Print ISSN: 0946-7076
Elektronische ISSN: 1432-1858
DOI
https://doi.org/10.1007/s00542-008-0698-9

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