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Am 14./15. Mai geht es in Chemnitz um die Mobilitätswende durch Elektro- und Wasserstofffahrzeuge.
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Journal of Electronic Testing

Ausgabe 3/1998

Inhalt (8 Artikel)

Editorial

Vishwani D. Agrawal

Estimation of BIST Resources During High-Level Synthesis

Ishwar Parulkar, Sandeep K. Gupta, Melvin A. Breuer

Testability Enhancement for Control-Flow Intensive Behaviors

Kelly A. Ockunzzi, Christos A. Papachristou

Initialization of Sequential Circuits and its Application to ATPG

Jalal A. Wehbeh, Daniel G. Saab

An IEEE 1149.1 Compliant Test Control Architecture

Debaditya Mukherjee, Melvin A. Breuer

A Behavior Model for Next Generation Test Systems

Lee A. Shombert, John W. Sheppard

Test Generation and Fault Simulation for Cell Fault Model using Stuck-at Fault Model based Test Tools

M. Psarakis, D. Gizopoulos, A. Paschalis

A Method of Formal Verification of Cryptographic Circuits

Kanji Hirabayashi

Okt 98
Ausgabe: 2/1998
Feb 99
Ausgabe: 1-2/1999

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